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高亮度鹵素?zé)鬥P-150ID的介紹
日本山田光學(xué)YAMADA高亮度鹵素?zé)鬥P-150ID是一種專(zhuān)為精密檢測(cè)設(shè)計(jì)的照明設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片、玻璃表面等材料的表面缺陷檢測(cè)。以下是該設(shè)備的一些關(guān)鍵特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景：
特點(diǎn)：
- 高亮度照明：YP-150ID能夠提供超過(guò)400,000 lux的高照度照明，照射范圍為φ30mm，這使得它能夠清晰地揭示微小的表面缺陷。
- 鹵素光源：采用色溫高達(dá)3400K的鹵素?zé)糇鳛楣庠?，確保了光線的穩(wěn)定性和銳利性，同時(shí)照光和顏色均一，保證了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。
- 冷鏡技術(shù)：通過(guò)使用冷鏡，YP-150ID將熱影響降至傳統(tǒng)鋁鏡的1/3，減少了對(duì)被測(cè)樣品的熱損傷，這對(duì)于溫度敏感的材料尤為重要。
- 雙照度模式：設(shè)備具備高照度與低照度兩種觀察模式，用戶可以根據(jù)檢測(cè)需求一鍵切換，提升了操作的靈活性。
- 操作簡(jiǎn)便：光束直徑可通過(guò)鏡片在30-50mm之間調(diào)整，底部開(kāi)關(guān)可調(diào)節(jié)照明勘察器高度，使得操作更加簡(jiǎn)便，同時(shí)可控制光量。
應(yīng)用場(chǎng)景：
YP-150ID適用于半導(dǎo)體加工、玻璃表面檢測(cè)等精密制造領(lǐng)域，是一種可靠、實(shí)用的目視檢查輔助工具。它能夠檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等。此外，該設(shè)備還適用于醫(yī)療衛(wèi)生、食品/農(nóng)產(chǎn)品、能源、制藥/生物制藥、汽車(chē)及零部件等多個(gè)領(lǐng)域，訂貨號(hào)為137*/1702/*3088，亮度達(dá)到400000LX。
綜上所述，山田光學(xué)YAMADA高亮度鹵素?zé)鬥P-150ID是一款高性能的照明設(shè)備，適用于多種精密檢測(cè)場(chǎng)景，其高亮度、低熱影響和操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)使其成為行業(yè)的理想選擇。
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